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首頁 > 產品總覽 > ↓分析檢測儀器/設備 > 光譜儀 > 紫外光UV/可見光VIS/近紅光NIR 分光光譜儀 V-670

紫外光UV/可見光VIS/近紅光NIR 分光光譜儀 V-670
光學產品檢測之最佳工具
具有各領域之量測附件可供選擇
可外接觸控型彩色LCD控制面板,具有樣品測量、即時圖譜顯示、資料分析及儲存等功能
可插卡將資料複製至電腦上保存或分析
智慧型IQ Accessory & IQ Start辨識功能,可自動判斷安裝附件型號並啟動預設參數
詳細資訊  
光學系統
雙光束、單分光器
波長範圍
190~2,700nm
可擴充波長範圍
190~3,200nm
圖譜頻寬
UV/VIS range: 0.1, 0.2, 0.5, 1, 2, 5, and 10 nm (標準高度)
NIR range: 0.4, 0.8, 1, 2, 4, 8, 20 and 40 nm (標準高度)
波長準確度
UV/VIS range ±0.3 nmNIR range ±1.5 nm
波長再現性
UV/VIS range ±0.05 nmNIR range ±0.2 nm
光源
氘氣燈(190~350nm)、鹵素燈(330~2700nm)
檢知器
光電倍增管(Photomultiplier tube)、電子致冷式PbS
迷光率
0.005%T (220 nm NaI, 340 nm NaNO2)0.04% (1690 nm H2O, 10 mm cell)
基線穩定性
±0.0003 Abs/hr.
基線平坦度
±0.0005 Abs (200~850nm)
測定模式
Abs, %T, %R(反射率)
測定範圍
-2~+4 Abs(UV/VIS range);-2~+3 Abs(NIR range)並具Dark Correction 功能
測定準確度
±0.002 Abs(0~0.5 Abs)
±0.003 Abs(0.5~1 Abs)
±0.3%T
測定再現性
±0.001 Abs (0~0.5 Abs)
±0.001 Abs (0.5~1 Abs)
測定感度
RMS noise 0.00003 Abs (500 nm; 60 sec; Response=medium; BW=2 nm)
 
   
   
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